Monet yritykset harkitsevat kalvokerroksen mittaamista tyhjiöpäällystyskoneiden käytön jälkeen sen laadun varmistamiseksi.
Kalvokerros on kuitenkin hyvin ohut, joten mittaus vaikuttaa salaperäiseltä prosessilta.
Tänään Puyuan Vacuum esittelee pinnoitekerrosten mittaus- ja valvontamenetelmät toivoen olevansa hyödyllinen kaikille.
Suorin menetelmä pinnoitusprosessin ohjaamiseksi tyhjiöpäällystyskoneessa on kvartsikidemikrovaakamenetelmä (QCM).
Tämä instrumentti voi ohjata suoraan haihdutuslähdettä ja ylläpitää haihtumisnopeutta ohjaamalla ohjauslevyjä syklisesti PID-säädön kautta.
Kun instrumentti on liitetty järjestelmän ohjausohjelmistoon, se voi ohjata koko pinnoitusprosessia. QCM:n tarkkuus on kuitenkin rajallinen, osittain siksi, että se valvoo pinnoitteen laatua sen optisen paksuuden sijaan.
Lisäksi vaikka QCM on erittäin vakaa alemmissa lämpötiloissa, siitä tulee erittäin herkkä lämpötilan nousulle. Pitkän kuumennuksen aikana on vaikea estää anturin putoaminen tälle herkälle alueelle, mikä aiheuttaa merkittäviä virheitä kalvokerroksessa.
Optinen valvonta on ensisijainen tarkkailumenetelmä erittäin{0}}tarkkuuspinnoitteille, koska se mahdollistaa kalvon paksuuden tarkemman hallinnan (jos sitä käytetään oikein). Parempi tarkkuus johtuu monista tekijöistä, mutta perimmäisin syy on optisen paksuuden seuranta.
OPTIMALSWA-I-05 yhden aallonpituuden optinen valvontajärjestelmä käyttää epäsuoraa mittausta ja ohjausta yhdistettynä kehittyneeseen optiseen valvontaohjelmistoon.
Se parantaa tehokkaasti optisten vasteiden herkkyyttä kalvon paksuuden muutoksille, vähentää äärimmäisiä virheitä ja tarjoaa valikoiman takaisinkytkentä- tai lähetystiloja sekä laajan valikoiman valvonta-aallonpituuksia. Se soveltuu erityisen hyvin eripaksuisten pinnoitteiden, myös epäsäännöllisten kalvojen, valvontaan.
https://www.tiktok.com/@vacuum.coatingmachine?lang=zh-Hans
